21-01-2003 14:46

Heu pour le flashage du bios je verrai ptaitt après la modification de ses paramètres non ?
(et c'est une A7N8X : http://www.asus.it/support/download...ModelName=A7N8X)

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21-01-2003 17:51

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reboots 21-01-2003 18:59

bonjour tien j ai trouver ca sur un forum ca t aidera peutre


ptete que té en mode synchrone
desynchronise
sinon en sychrone faut la mettre en 2100 mo/S



<img src="C:\Documents and Settings\fr\Mes documents\Mes images\zdfbbg.gif">


francka

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21-01-2003 20:04

Désolé franka je ne vois pas l'image que tu as joint
Peux-tu m'expliquer les histoires d'asynchrone et de 2100mo/s je ne connais pas

Alors suite des opérations : j'ai changé les paramètres du bios en suivant les indications du site de nvidia, et re-TW2003, et re-blue-screen :<<

Rien sur l'écran bleu si ce n'est ça :

***STOP_: 0x1000008e (0xc0000005, 0x00000008, 0xedea1ae4, 0x00000000)

...si ça parle à quelqu'un

Je lance maintenant les tests de RAM...

@Maousse: le bios de la carte mère nouveau n'apporte que "Improve memory stability" je le tente quand même ? (ça a pas l'air simple)
et la carte graphique j'ai trouvé nulle part de bios.

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21-01-2003 20:43

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Grande chance que ce soit la mémoire 21-01-2003 20:50

Moi, j'ai acheté un PC avec une A7N8X au mois de Décembre....et j'ai rencontré le même genre de soucis, c'est à dire des plantages aléatoires sans arrêt (une fois, il avait pourtant tenu 10 heures sans planter). Bref c'était à s'arracher les cheveux.
Premier passage chez l'assembleur, il connait bien le problème avec les a7n8x (et beaucoup de cartes mère récentes je pense) : elle est très tatillone avec la mémoire. donc il me change ma seitec par de la hynix.
Retour à la maison, et c'est toujours pareil, plantages aléatoires.
Je consulte le forum sur hardware.fr pour constater que 80 % de ces problèmes sur cette carte mère viennent bien de problèmes de mémoire.
Rappel assembleur qui m'annonce tout heureux pour moi qu'il a de la samsung C et que celle la, elle marche bien avec la A7N8X.
bon Ok;
j'y vais , il me change la mémoire.....

..........et depuis c'est le bonheur
mon micro tourne 24 h sur 24 sans planter

Conclusion : ca devient compliqué d'acheter un micro assemblé de nos jour

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21-01-2003 21:41

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21-01-2003 21:59

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Alors la mémoire justement 21-01-2003 22:01

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mentest 21-01-2003 23:21

voila la descriptions en anglais

tu na plus qua la traduire :

Individual Test Descriptions
Memtest86 executes a series of numbered test sections to check for errors. These test sections consist of a combination of test algorithm, data pattern and cache setting. The execution order for these tests were arranged so that errors will be detected as rapidly as possible. Tests 8, 9, 10 and 11 are very long running extended tests and are only executed when extended testing is selected. The extended tests have a low probability of finding errors that were missed by the default tests. A description of each of the test sections follows:

Test 0 [Address test, walking ones, no cache]

Tests all address bits in all memory banks by using a walking ones address pattern.
Test 1 [Moving Inv, ones&zeros, cached]

This test uses the moving inversions algorithm with patterns of only ones and zeros. Cache is enabled even though it interferes to some degree with the test algorithm. With cache enabled this test does not take long and should quickly find all "hard" errors and some more subtle errors. This test is only a quick check.
Test 2 [Address test, own address, no cache]

Each address is written with its own address and then is checked for consistency. In theory previous tests should have caught any memory addressing problems. This test should catch any addressing errors that somehow were not previously detected.
Test 3 [Moving inv, 8 bit pat, cached]

This is the same as test one but uses a 8 bit wide pattern of "walking" ones and zeros. This test will better detect subtle errors in "wide" memory chips. A total of 20 data patterns are used.

Test 4 [Moving inv, 32 bit pat, cached]

This is a variation of the moving inversions algorithm that shifts the data pattern left one bit for each successive address. The starting bit position is shifted left for each pass. To use all possible data patterns 32 passes are required. This test is effective in detecting data sensitive errors in "wide" memory chips.
Test 5 [Block move, 64 moves, cached]

This test stresses memory by using block move (movsl) instructions and is based on Robert Redelmeier's burnBX test. Memory is initialized with shifting patterns that are inverted every 8 bytes. Then 4mb blocks of memory are moved around using the movsl instruction. After the moves are completed the data patterns are checked. Because the data is checked only after the memory moves are completed it is not possible to know where the error occurred. The addresses reported are only for where the bad pattern was found. Since the moves are constrained to a 8mb segment of memory the failing address will always be less than 8mb away from the reported address. Errors from this test are not used to calculate BadRAM patterns.
Test 6 [Modulo 20, ones&zeros, cached]

Using the Modulo-X algorithm should uncover errors that are not detected by moving inversions due to cache and buffering interference with the the algorithm. As with test one only ones and zeros are used for data patterns.
Test 7 [Moving inv, ones&zeros, no cache]

This is the same as test one but without cache. With cache off there will be much less interference with the test algorithm. However, the execution time is much, much longer. This test may find very subtle errors missed by previous tests.
Test 8 [Block move, 512 moves, cached]

This is the first extended test. This is the same as test #5 except that we do more memory moves before checking memory. Errors from this test are not used to calculate BadRAM patterns.
Test 9 [Moving inv, 8 bit pat, no cache]

By using an 8 bit pattern with cache off this test should be effective in detecting all types of errors. However, it takes a very long time to execute and there is a low probability that it will detect errors not found by the previous tests.
Test 10 [Modulo 20, 8 bit, cached]

This is the first test to use the Modulo-X algorithm with a data pattern other than ones and zeros. This combination of algorithm and data pattern should be quite effective. However, it's very long execution time relegates it to the extended test section.
Test 11 [Moving inv, 32 bit pat, no cache]

bonne chance:<<

<img src="C:\Documents and Settings\fr\Mes documents\Mes images\zdfbbg.gif"

francka

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22-01-2003 00:41

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22-01-2003 08:48

En fait pour le bios de la carte mère j'ai déjà le dernier, j'avais pas vu...donc pas de flashage à faire finalement.

Merci franka, mais j'ai déjà lu ça. Et quand on n'y connait rien comme moi, ben ça me dit pas si ma RAM elle est bonne ou pas

Je crois qu'il ne me reste plus qu'à échanger ma RAM, puisque ça a marché pour marillion sur la A7N8X, ce que je vais essayer de faire aujourd'hui. Mais je ne sais pas si mon assembleur aura de la siemens.

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22-01-2003 08:52

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22-01-2003 13:41

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22-01-2003 13:55

J'en pense que si ton assembleur t'avait fourni de la ram samsung, ton problème serait résolu ce soir

Le patch, jamais entendu parlé.
Le voltage, si tu n'as pas fait d'overclocking, rien changé dans le bios pour ce paramètre et si tu n'as pas accidentellement enlever un jumper de la CM, je ne vois pas pourquoi ce serait le problème.

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